Charge trapping is one of the main reliability issues for GaN-based MIS-high-electron-mobility-transistor technologies. In this paper, we focus on the defects located at or close to the interface with the dielectric, which are responsible for the threshold voltage...
Challenges IA : Enrichissez vos cas d’usage avec des données spatiales ! Les Challenges IA, qu’est-ce que c’est ? Dans le cadre du plan « Intelligence Artificielle (IA) » annoncé par le Président de la République, l’État souhaite soutenir le lancement de «...
Chaque semaine NAE vous propose une veille technologique sur une thématique de sa feuille de route technologique. Aujourd’hui retrouvez sa veille sur la thématique Fiabilité qui abordera : Mondial Dispositif d’alimentation basé sur GaN Marché 2017-2026 | Cree...
AsteelFlash, champion français de la sous-traitance électronique, négocie son rachat par le groupe taïwanais USI pour 450 millions de dollars. A moins de trois ans de son départ à la retraite, son PDG-fondateur Gilles Benhamou, veut ainsi assurer la croissance et la...
C’est au salon Consumer Electronics Show qui se tient actuellement à Las Vegas que Bell a créé la surprise, en dévoilant une version corrigée de son Nexus, baptisée Nexus 4EX, qui passe à la motorisation entièrement électrique.Un an environ après l’avoir...
